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XRD物相分析检测平台承诺守信「半导体研究所」

来源:半导体研究所 更新时间:2023-01-22 10:32:46

以下是XRD物相分析检测平台承诺守信「半导体研究所」的详细介绍内容:

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XRD物相分析检测平台半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

XRD 峰整体向右偏移是什么原因造成的?

可能是离子半径小的元素取代了离子半径大的元素。

也可能是你制样时,样品表面高出了样品座平面或者仪器的零点不准造成的,建议你好用标样来修正你的数据。

把样品靠后放置,使样品偏离测角仪中轴大概有 1mm,请问衍射峰会怎么变化?

峰位移向低角度。样品表面偏离测角仪转轴 0.1mm,衍射角的测量将产生约 0.05度(2θ)的误差(对 Cu 靶,在 2θ 20度附近的位置)。

 影响仪器测量结果的分辨率仅仅取决于θ吗?

影响仪器测量结果的分辨率的因素是多方面的:测角仪的半径;X 射线源的焦斑尺寸;光学系统的各种狭缝的尺寸;仪器调整情况(2:1 关系);采数步宽;样品定位情况等。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD物相分析检测平台

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在进行 Rietveld结构精修时,是否该对温度因子进行约束?如何约束以及约束范围?

由于温度因子是随着衍射角的增加而对强度的影响增大,所以,如果要精修温度因子,就 一定要收集高角度的数据。

Fullprof精修时,Biso 的值给如何设定?是否有个大概的取值范围?

Biso 是温度因子,occu 是占有率。从我拟合来看,Biso 与原子的位置有关系。温度因子是反映原子或离子偏离平衡位置的程度,因为晶胞中各原子都要做热振动的。对于立方晶系,各向同性,只修各向同性温度因子就可以了。温度因子和占有率都是影响强度的参数,所以 之间有一定的相关性。而且,温度因子对高角度峰的强度影响比较大,所以,如果要精修温度因子,好收到高角度的数据 。

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已经知道晶体的晶格常数、晶系以及各衍射峰的 hkl 值,请问如何确定其空间群,有没有相应的软件?

有了这些就可以用Shelx来解晶体了,空间群自然也就能确定了。可以用国际晶体学手册, 利用你的已知数据便可查的。未知物质的空间群是根据统计消光规律来得到的,终的结果还要用结构测定的结果来确定,统计消光规律来推测空间群的软件有 XPREP,wingx 等。

具体可以如下操作:衍射数据当作P1空间群处理然后利用Pattern 程序生成 Psudo-Precession然后根据系统消光规律推导出晶体的劳埃对称性。不是所有的时候都可以直接给出终的空间群。好在解完结构之后,利用结构解析程序产生的FCF文件再重新核对一遍。

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以上信息由专业从事XRD物相分析检测平台的半导体研究所于2023/1/22 10:32:46发布

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