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西藏自治XRD小角度检测分析来电垂询 半导体薄膜测试机构

来源:半导体研究所 更新时间:2023-01-29 09:24:55

以下是西藏自治XRD小角度检测分析来电垂询 半导体薄膜测试机构的详细介绍内容:

西藏自治XRD小角度检测分析来电垂询 半导体薄膜测试机构 [半导体研究所)75f6c80]"内容:

XRD小角度检测分析半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

样品的挑选:

宏观特征:应该是透明,没有裂痕,表面干净,有光泽。(不是所有晶体都是透明的,但是好的晶体样品一定是没有裂痕的且没有明显的突出和凹陷,因为裂痕处会产生晶格错位,影响测试结构的准确性)

形貌特征:晶体样品如果是圆球状,那么这个晶粒样品很可能是非晶态,在测试过程中无法出现衍射图谱。晶体样品如果是树枝状活簇状晶体,尽量不要在这些上切割一个晶粒,好选择单一的一粒,因为切割会影响测试结果。

其他特征:晶体样品一般不溶于水,一般溶于水的样品都是无机盐。

样品的大小:

光源所带的准直器的内径决定了X射线强度一致区域的大小,晶体的尺寸一般不能超过准直器的内径(常用的为0.5-0.6mm)。(我们要求是大于50微米)

晶体合适的尺寸是:纯有机物0.3-0.7mm,金属配合物或金属有机物0.15-0.5mm,纯无机物0.1-0.3mm。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD小角度检测分析

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XRD小角衍射与普通XRD的区别

一、指代不同

1、小角衍射:利用电子显微镜中聚焦的电子束照射 样品,电子在原子的静电场作用下发生散射。

2、XRD:通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

二、特点不同

1、小角衍射:消除反射、折射 和二次散射后,经放大得到试验的高分散衍射。

2、XRD:用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度,晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。 根据该电子密度,可以确定晶体中原子的平均位置,以及它们的化学键和各种其他信息。

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气相扩散法

A:良溶剂溶液,沸点较高

B:不良溶剂,沸点较低

常用溶剂体系:

适用于极性较大化合物:MF/;MF/己烷

适用于极性较小化合物:MF/水;DMSO/水

水热法或溶剂热法  

适用于特别难溶的化合物 (如二维或三维配位网络),经常在反应生成某种化合物的同时,生长其晶体。该方法有时可以得到其他方法无法得到的奇特结构;

需控制好溶剂和温度,高温条件下溶剂蒸汽自动产生一定压力,反应一段时间后,控制降温,冷却到室温之后,收集晶体。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD小角度检测分析

以上信息由专业从事XRD小角度检测分析的半导体研究所于2023/1/29 9:24:55发布

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广东省科学院半导体研究所
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