XRD倒易空间(RSM)检测分析半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
XRD 峰整体向右偏移是什么原因造成的?
可能是离子半径小的元素取代了离子半径大的元素。
也可能是你制样时,样品表面高出了样品座平面或者仪器的零点不准造成的,建议你好用标样来修正你的数据。
把样品靠后放置,使样品偏离测角仪中轴大概有 1mm,请问衍射峰会怎么变化?
峰位移向低角度。样品表面偏离测角仪转轴 0.1mm,衍射角的测量将产生约 0.05度(2θ)的误差(对 Cu 靶,在 2θ 20度附近的位置)。
影响仪器测量结果的分辨率仅仅取决于θ吗?
影响仪器测量结果的分辨率的因素是多方面的:测角仪的半径;X 射线源的焦斑尺寸;光学系统的各种狭缝的尺寸;仪器调整情况(2:1 关系);采数步宽;样品定位情况等。
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(用 X 射线衍射仪)做 X 射线衍射时,一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 X 射线衍射的目的。比如:扫描速度,如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分),如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件,狭缝越小分辨率越高,但强度就会减小,不宜快扫,这又要增加时间。
还要根据的样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描:测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒,如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪,40kV、40mA)。
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细针状微晶粉末样品做 XRD 重复性很差。(制作粉末衍射样品片)怎么可以避免择优取向?
择优取向是很难避免的,只能尽力减少他的影响。
首先,你要讲样品磨得尽量细(但要适度,要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏);
不要在光滑的玻璃板上大力压紧(压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张),样品成形尽可能松一些;
制样过程中也可以掺一些玻璃粉,或加一些胶钝化一下样品的棱角。
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XRD的图谱怎么看?如何简单分析XRD图谱
可以从以下步骤简单分析
1、定性分析(XRD的主要功能),通过八强峰匹配标准pdf卡片,得知样品是由哪些物质构成的。
2、通过看峰宽等来分析结晶度,峰越尖锐,结晶度越好。
3、看信噪比,信噪比越高,说明这张XRD图拍得越好,越。
当然,还有许多信息,包括物质晶系、晶胞参数、各物质定量分析、等,但是那个不是简单分析了。
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以上信息由专业从事XRD倒易空间(RSM)检测分析的半导体研究所于2023/1/30 6:54:24发布
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